Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Vydáno: |
НБ СевКавГТУ
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|