Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Сохранить в:
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | 圖書 |
| 出版: |
НБ СевКавГТУ
|
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|