Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Сохранить в:
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | 图书 |
| 出版: |
НБ СевКавГТУ
|
| 标签: |
添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
|