Joan edukira

Рентгенография кристаллов

Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку для рентгеновского излучения....

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Гинье А.
Formatua: Liburua
Argitaratua: NCFU
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
LEADER 01572nam a2200253 i 4500
001 F.NCFU.000295.06E45E
005 20200124165336.0
100 |a 20200124 1961 u 50  
101 0 |a rus  
102 |a RU 
105 |a y ||||| 
200 |a Рентгенография кристаллов  |e (Теория и практика)  |f А. Гинье  |g Пер. с франц. Е. Н. Беловой, С. С. Квитки, В. П. Тарасовой 
210 |a М.  |c Физматгиз  |d 1961 
215 |a 604 с. 
300 |a Доп. тит. л.: Theorie et teghnique de la radiocristallographie. Par A/ Guinier. 2-e ed. Paris, Dunod, 1956 
330 |a Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку для рентгеновского излучения. 
606 |a Рентгенография кристаллов 
606 |a Кристаллы 
606 |a Рентгеноструктурный анализ 
700 1 |a Гинье  |b А. 
801 0 |a RU  |b NCFU  |c 20140401  |g rcr 
801 1 |2 rusmarc  |a RU  |b NCFU  |c 20140401 
899 |i Г 498  |j 541 
993 |a 144388  |b 52316  |e 185024  |f F.NCFU.000295.07723F  |h 2-65  |i 800000005629  |m 1  |n 38544.460428240738  |o I