Пропуск в контексте

Фотоэмиссионный анализ оптического излучения монография

Фотоэмиссионный анализ излучения основан на зависимости распределения фотоэлектронов внешнего фотоэффекта по энергиям от распределения фотонов в спектре излучения. Экспериментально решена обратная некорректно поставленная задача восстановления сплошных и линейчатых спектров чисто электронным способо...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Каспаров, К. Н. (070)
Формат: Книга
Темы:
Online-ссылка:Перейти к просмотру издания
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 03263nam0a2200349 4500
001 RU/IPR SMART/10092
856 4 |u https://www.iprbookshop.ru/10092.html  |z Перейти к просмотру издания 
801 1 |a RU  |b IPR SMART  |c 20250903  |g RCR 
010 |a 978-985-08-1251-3 
205 |a Фотоэмиссионный анализ оптического излучения  |b Весь срок охраны авторского права 
333 |a Весь срок охраны авторского права 
100 |a 20250903d2011 k y0rusy01020304ca 
105 |a y j 000zy 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Фотоэмиссионный анализ оптического излучения  |e монография  |f К. Н. Каспаров 
700 1 |a Каспаров,   |b К. Н.  |4 070 
330 |a Фотоэмиссионный анализ излучения основан на зависимости распределения фотоэлектронов внешнего фотоэффекта по энергиям от распределения фотонов в спектре излучения. Экспериментально решена обратная некорректно поставленная задача восстановления сплошных и линейчатых спектров чисто электронным способом без применения каких-либо оптических средств. Излучение объекта используется в телесном угле вплоть до 2 «пи», световые потоки 10 - 8 –10–10 Вт. Идентификация монохроматического излучения фото- и катодолюминесценции слоистых эпитаксиальных полупроводниковых структур позволила за счёт увеличения контраста в растровом электронном микроскопе обнаружить и определить состав слоев при уровне световых потоков ~ 10–10 Вт. Анализ теплового излучения позволяет измерять интегральную цветовую температуру объекта с временным разрешением 10–6 с при методической погрешности измерений ~ 0,3 %. Рассмотрены требования, предъявляемые к датчику для выполнения фотоэмиссионного анализа излучения. 
210 |a Минск  |c Белорусская наука  |d 2011 
610 1 |a Фотоэмиссионный анализ 
610 1 |a фотоэлектрон 
610 1 |a фотон 
610 1 |a линейчатый спектр 
675 |a 535.3 
686 |a 22.3  |2 rubbk 
300 |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. 
106 |a s 
230 |a Электрон. дан. (1 файл) 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
503 0 |a Доступна эл. версия. IPR SMART 
215 |a 171 с.