Přeskočit na obsah

Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии монография

Монография посвящена применению метода ИК-спектроскопической эллипсометрии для исследований и диагностики наноматериалов и наноразмерных многослойных гетероструктур. Плодотворность использования данного метода нанодиагностики обусловлена тем, что, с одной стороны, метод является неразрушающим, а с д...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Макеев, М. О. (070)
Médium: Книга
Témata:
On-line přístup:Перейти к просмотру издания
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!