Skip to content

Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии монография

Монография посвящена применению метода ИК-спектроскопической эллипсометрии для исследований и диагностики наноматериалов и наноразмерных многослойных гетероструктур. Плодотворность использования данного метода нанодиагностики обусловлена тем, что, с одной стороны, метод является неразрушающим, а с д...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Макеев, М. О. (070)
Format: Книга
Subjects:
Online Access:Перейти к просмотру издания
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!