Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Збережено в:
Автор: | Горлов, М. И. (070) |
---|---|
Формат: | Книга |
Предмети: | |
Онлайн доступ: | Перейти к просмотру издания |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
за авторством: Горлов М. И.
Опубліковано: (2020) -
Современное производство изделий микроэлектроники учебное пособие
за авторством: Васильев, В. Ю. -
Методы контроля качества сварных конструкций промышленных зданий и строительных машин учебное пособие
за авторством: Гордиенко, В. Е. - Системно-деятельностный подход: диагностический инструментарий оценивания метапредметных результатов профессионально-педагогического образования материалы организационно-деятельностной игры (оди-3) (г. иркутск, 25 апреля 2013 г.)
-
Средства контроля качества сварных конструкций промышленных зданий и строительных машин учебное пособие
за авторством: Гордиенко, В. Е.