Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Сохранить в:
主要作者: | Горлов, М. И. (070) |
---|---|
格式: | Книга |
主題: | |
在線閱讀: | Перейти к просмотру издания |
標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
相似書籍
-
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
由: Горлов М. И.
出版: (2020) -
Современное производство изделий микроэлектроники учебное пособие
由: Васильев, В. Ю. -
Методы контроля качества сварных конструкций промышленных зданий и строительных машин учебное пособие
由: Гордиенко, В. Е. - Системно-деятельностный подход: диагностический инструментарий оценивания метапредметных результатов профессионально-педагогического образования материалы организационно-деятельностной игры (оди-3) (г. иркутск, 25 апреля 2013 г.)
-
Средства контроля качества сварных конструкций промышленных зданий и строительных машин учебное пособие
由: Гордиенко, В. Е.