Пропуск в контексте

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Fuld beskrivelse

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Горлов, М. И. (070)
Format: Книга
Fag:
Online adgang:Перейти к просмотру издания
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!