Saltar ao contenido

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Descrición completa

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Горлов, М. И. (070)
Formato: Книга
Темы:
Acceso en liña:Перейти к просмотру издания
Метки: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!