Salta al contenuto

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Descrizione completa

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Горлов, М. И. (070)
Natura: Книга
Soggetti:
Accesso online:Перейти к просмотру издания
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !