Przejdź do treści

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Горлов, М. И. (070)
Format: Книга
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Перейти к просмотру издания
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!