Pular para o conteúdo

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Горлов, М. И. (070)
Formato: Книга
Assuntos:
Acesso em linha:Перейти к просмотру издания
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!