Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда лабораторная работа. учебное пособие
Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Темы: | |
| Online-ссылка: | Перейти к просмотру издания |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 04544nam0a2200361 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU/IPR SMART/116423 | ||
| 856 | 4 | |u https://www.iprbookshop.ru/116423.html |z Перейти к просмотру издания | |
| 801 | 1 | |a RU |b IPR SMART |c 20250903 |g RCR | |
| 010 | |a 978-5-7262-2376-6 | ||
| 205 | |a Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда |b 2026-11-12 | ||
| 333 | |a Лицензия до 12.11.2026 | ||
| 100 | |a 20250903d2019 k y0rusy01020304ca | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда |e лабораторная работа. учебное пособие |f М. Г. Исаенкова, О. А. Крымская, Ю. А. Перлович | |
| 700 | 1 | |a Исаенкова, |b М. Г. |4 070 | |
| 701 | 1 | |a Крымская, |b О. А. |4 070 | |
| 701 | 1 | |a Перлович, |b Ю. А. |4 070 | |
| 330 | |a Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии». | ||
| 210 | |a Москва |c Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» |d 2019 | ||
| 610 | 1 | |a порошковый материал | |
| 610 | 1 | |a поликристаллический материал | |
| 610 | 1 | |a кристаллическая структура | |
| 675 | |a 539.26 | ||
| 686 | |a 22.34 |2 rubbk | ||
| 300 | |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. | ||
| 106 | |a s | ||
| 230 | |a Электрон. дан. (1 файл) | ||
| 336 | |a Текст | ||
| 337 | |a электронный | ||
| 503 | 0 | |a Доступна эл. версия. IPR SMART | |
| 215 | |a 32 с. | ||