Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов учебное пособие
В учебном пособии изложены основы современных методов обеспечения надежности электронных компонентов космических аппаратов (КА), работающих в специфических условиях длительного воздействия космической радиации. Для основного класса электронных компонентов, широко применяемых в аппаратуре КА - полупр...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Темы: | |
| Online-ссылка: | Перейти к просмотру издания |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 04230nam0a2200325 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU/IPR SMART/117349 | ||
| 856 | 4 | |u https://www.iprbookshop.ru/117349.html |z Перейти к просмотру издания | |
| 801 | 1 | |a RU |b IPR SMART |c 20250903 |g RCR | |
| 010 | |a 2227-8397 | ||
| 205 | |a Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов |b 2025-12-16 | ||
| 333 | |a Гарантированный срок размещения в ЭБС до 16.12.2025 (автопролонгация) | ||
| 100 | |a 20250903d2003 k y0rusy01020304ca | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов |e учебное пособие |f Е. А. Ладыгин | |
| 700 | 1 | |a Ладыгин, |b Е. А. |4 070 | |
| 330 | |a В учебном пособии изложены основы современных методов обеспечения надежности электронных компонентов космических аппаратов (КА), работающих в специфических условиях длительного воздействия космической радиации. Для основного класса электронных компонентов, широко применяемых в аппаратуре КА - полупроводниковых приборов и микросхем, показана эффективность комплексного использования радиационных воздействий испытательного, отбраковочного и технологического характера для решения проблем обеспечения их надежности и радиационной стойкости. В пособии даны сведения о радиационной обстановке в околоземном космическом пространстве, приведен анализ физических эффектов в приборах и микросхемах при облучении, изложены научно обоснованные рекомендации по оптимизации режимов испытаний, расчету необходимой локальной защиты микросхем, разработке оптимальных вариантов радиационно-термических тренировок и радиационно-термических процессов для улучшения параметров, повышения стойкости приборов и микросхем к радиации, отбраковки приборов со скрытыми дефектами. Содержание пособия соответствует программе курса «Основы лучевой технологии микроэлектроники». Учебное пособие предназначено для студентов специальностей 200100 и 200200 «Микроэлектроника и твердотельная электроника», а также будет полезно при выполнении дипломных и диссертационных работ в области радиационной\nфизики, радиационного материаловедения и технологии приборов и микросхем, применяемых в аппаратуре КА. | ||
| 210 | |a Москва |c Издательский Дом МИСиС |d 2003 | ||
| 610 | 1 | |a электронные компоненты | |
| 610 | 1 | |a космические аппараты | |
| 675 | |a 539.32 | ||
| 686 | |a 39.6 |2 rubbk | ||
| 300 | |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. | ||
| 106 | |a s | ||
| 230 | |a Электрон. дан. (1 файл) | ||
| 336 | |a Текст | ||
| 337 | |a электронный | ||
| 503 | 0 | |a Доступна эл. версия. IPR SMART | |
| 215 | |a 110 с. | ||