Пропуск в контексте

Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения учебно-практическое пособие

Подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям, включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства, с помощью которых могут осуществляться преднаме...

全面介绍

Сохранить в:
书目详细资料
主要作者: Гуревич, В. И. (070)
格式: Книга
主题:
在线阅读:Перейти к просмотру издания
标签: 添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!