Skip to content

Физические основы современных методов исследования материалов учебное пособие

Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде пр...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Рогачев, Е. А. (070)
Format: Книга
Subjects:
Online Access:Перейти к просмотру издания
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Physical Description:Книга находится в премиум-версии IPR SMART.
ISBN:978-5-8149-3367-6