Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие
Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Смирнов, С. В. (070) |
---|---|
التنسيق: | Книга |
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | Перейти к просмотру издания |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем
بواسطة: Смирнов С. В.
منشور في: (2010) -
Программирование логических интегральных схем учебное пособие
بواسطة: Холопов, С. И. -
Производство гибридных интегральных схем учебное пособие
بواسطة: Родионов, Ю. А. -
Реализация цифровых устройств в базисе программируемых логических интегральных схем учебное пособие
بواسطة: Строгонов, А. В. - Функционально интегрированные элементы интегральных схем и микросистем