Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие
Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...
Guardat en:
Autor principal: | Смирнов, С. В. (070) |
---|---|
Format: | Книга |
Matèries: | |
Accés en línia: | Перейти к просмотру издания |
Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
Ítems similars
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем
per: Смирнов С. В.
Publicat: (2010) -
Программирование логических интегральных схем учебное пособие
per: Холопов, С. И. -
Производство гибридных интегральных схем учебное пособие
per: Родионов, Ю. А. -
Реализация цифровых устройств в базисе программируемых логических интегральных схем учебное пособие
per: Строгонов, А. В. - Функционально интегрированные элементы интегральных схем и микросистем