Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие
Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Смирнов, С. В. (070) |
---|---|
Μορφή: | Книга |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Перейти к просмотру издания |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем
ανά: Смирнов С. В.
Έκδοση: (2010) -
Программирование логических интегральных схем учебное пособие
ανά: Холопов, С. И. -
Производство гибридных интегральных схем учебное пособие
ανά: Родионов, Ю. А. -
Реализация цифровых устройств в базисе программируемых логических интегральных схем учебное пособие
ανά: Строгонов, А. В. - Функционально интегрированные элементы интегральных схем и микросистем