Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие
Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...
Gorde:
Egile nagusia: | Смирнов, С. В. (070) |
---|---|
Formatua: | Книга |
Gaiak: | |
Sarrera elektronikoa: | Перейти к просмотру издания |
Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
Antzeko izenburuak
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем
nork: Смирнов С. В.
Argitaratua: (2010) -
Программирование логических интегральных схем учебное пособие
nork: Холопов, С. И. -
Производство гибридных интегральных схем учебное пособие
nork: Родионов, Ю. А. -
Реализация цифровых устройств в базисе программируемых логических интегральных схем учебное пособие
nork: Строгонов, А. В. - Функционально интегрированные элементы интегральных схем и микросистем