Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие
Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...
Gardado en:
Autor Principal: | Смирнов, С. В. (070) |
---|---|
Formato: | Книга |
Темы: | |
Acceso en liña: | Перейти к просмотру издания |
Метки: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
Títulos similares
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем
por: Смирнов С. В.
Publicado: (2010) -
Программирование логических интегральных схем учебное пособие
por: Холопов, С. И. -
Производство гибридных интегральных схем учебное пособие
por: Родионов, Ю. А. -
Реализация цифровых устройств в базисе программируемых логических интегральных схем учебное пособие
por: Строгонов, А. В. - Функционально интегрированные элементы интегральных схем и микросистем