Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие
Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...
Salvato in:
Autore principale: | Смирнов, С. В. (070) |
---|---|
Natura: | Книга |
Soggetti: | |
Accesso online: | Перейти к просмотру издания |
Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|
Documenti analoghi
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем
di: Смирнов С. В.
Pubblicazione: (2010) -
Программирование логических интегральных схем учебное пособие
di: Холопов, С. И. -
Производство гибридных интегральных схем учебное пособие
di: Родионов, Ю. А. -
Реализация цифровых устройств в базисе программируемых логических интегральных схем учебное пособие
di: Строгонов, А. В. - Функционально интегрированные элементы интегральных схем и микросистем