Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие
Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...
Сохранить в:
Главный автор: | Смирнов, С. В. (070) |
---|---|
Формат: | Книга |
Темы: | |
Online-ссылка: | Перейти к просмотру издания |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Схожие документы
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем
Автор: Смирнов С. В.
Опубликовано: (2010) -
Программирование логических интегральных схем учебное пособие
Автор: Холопов, С. И. -
Производство гибридных интегральных схем учебное пособие
Автор: Родионов, Ю. А. -
Реализация цифровых устройств в базисе программируемых логических интегральных схем учебное пособие
Автор: Строгонов, А. В. - Функционально интегрированные элементы интегральных схем и микросистем