Přeskočit na obsah

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Смирнов, С. В. (070)
Médium: Книга
Témata:
On-line přístup:Перейти к просмотру издания
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!