Skip to content

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем учебное пособие

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Смирнов, С. В. (070)
Format: Книга
Subjects:
Online Access:Перейти к просмотру издания
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!