Joan edukira

Многопараметрический подход в методах оптической диагностики: основы и применения

Монография посвящена вопросам повышения качества спектрального анализа и оптической диагностики материалов, процессов и изделий с помощью методов анализа многопараметрических данных. Рассматриваются основы многопараметрических методов, таких как метод главных компонент, метод частичных наименьших кв...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Ходасевич, М. А. (070)
Formatua: Книга
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Перейти к просмотру издания
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Antzeko izenburuak