Пропуск в контексте

Физика реального кристалла лабораторный практикум

Лабораторный практикум включает в себя материал, необходимый для подготовки и проведения лабораторных работ по дисциплине «Физика реального кристалла». Изложены основы теории изучаемых явлений, описание аппаратуры и методик измерения. Цель лабораторного практикума – приобретение студентами практичес...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Формат: Книга
Темы:
Online-ссылка:Перейти к просмотру издания
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 03454nam0a2200373 4500
001 RU/IPR SMART/56590
856 4 |u https://www.iprbookshop.ru/56590.html  |z Перейти к просмотру издания 
801 1 |a RU  |b IPR SMART  |c 20250903  |g RCR 
010 |a 978-5-87623-747-7 
205 |a Физика реального кристалла  |b 2027-03-01 
333 |a Гарантированный срок размещения в ЭБС до 01.03.2027 (автопролонгация) 
100 |a 20250903d2013 k y0rusy01020304ca 
105 |a y j 000zy 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Физика реального кристалла  |e лабораторный практикум  |f И. С. Диденко, Н. С. Козлова, О. М. Кугаенко, В. С. Петраков 
701 1 |a Диденко,   |b И. С.  |4 070 
701 1 |a Козлова,   |b Н. С.  |4 070 
701 1 |a Кугаенко,   |b О. М.  |4 070 
701 1 |a Петраков,   |b В. С.  |4 070 
330 |a Лабораторный практикум включает в себя материал, необходимый для подготовки и проведения лабораторных работ по дисциплине «Физика реального кристалла». Изложены основы теории изучаемых явлений, описание аппаратуры и методик измерения. Цель лабораторного практикума – приобретение студентами практических навыков исследования механических и электрофизических свойств кристаллов, определения концентрации точечных дефектов в кристаллах оптическим методом и влияния точечных дефектов на оптические свойства кристаллов. В процессе выполнения лабораторных работ студенты осваивают методики измерения микротвердости, микрохрупкости, электропроводности и спектров поглощения диэлектрических кристаллов, а также приобретают навыки определения величин, характеризующих дефекты в кристаллах, в том числе определение концентрации точечных дефектов. Лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлениям подготовки магистров 223200.68 «Техническая физика», 150100.68 «Материаловедение и технологии материалов». 
210 |a Москва  |c Издательский Дом МИСиС  |d 2013 
610 1 |a реальный кристалл 
610 1 |a физика 
610 1 |a дефект 
675 |a 548 
686 |a 22.3  |2 rubbk 
300 |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. 
106 |a s 
230 |a Электрон. дан. (1 файл) 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
503 0 |a Доступна эл. версия. IPR SMART 
215 |a 76 с.