Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия учебное пособие
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программ...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Темы: | |
| Online-ссылка: | Перейти к просмотру издания |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 03082nam0a2200385 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU/IPR SMART/64174 | ||
| 856 | 4 | |u https://www.iprbookshop.ru/64174.html |z Перейти к просмотру издания | |
| 801 | 1 | |a RU |b IPR SMART |c 20250903 |g RCR | |
| 010 | |a 978-5-87623-982-2 | ||
| 205 | |a Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия |b 2027-03-01 | ||
| 333 | |a Гарантированный срок размещения в ЭБС до 01.03.2027 (автопролонгация) | ||
| 100 | |a 20250903d2016 k y0rusy01020304ca | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия |e учебное пособие |f В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова | |
| 700 | 1 | |a Бублик, |b В. Т. |4 070 | |
| 701 | 1 | |a Щербачев, |b К. Д. |4 070 | |
| 701 | 1 | |a Воронова, |b М. И. |4 070 | |
| 330 | |a Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». | ||
| 210 | |a Москва |c Издательский Дом МИСиС |d 2016 | ||
| 610 | 1 | |a материал | |
| 610 | 1 | |a приборная структура | |
| 610 | 1 | |a дифракционный метод | |
| 610 | 1 | |a рентгеновская рефлектометрия | |
| 610 | 1 | |a диффузное рассеяние | |
| 675 | |a 62 | ||
| 686 | |a 30.3 |2 rubbk | ||
| 300 | |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. | ||
| 106 | |a s | ||
| 230 | |a Электрон. дан. (1 файл) | ||
| 336 | |a Текст | ||
| 337 | |a электронный | ||
| 503 | 0 | |a Доступна эл. версия. IPR SMART | |
| 215 | |a 84 с. | ||