Патентные исследования. Анализ патентной ситуации учебное пособие
В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержан...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Темы: | |
| Online-ссылка: | Перейти к просмотру издания |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 03846nam0a2200385 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU/IPR SMART/64191 | ||
| 856 | 4 | |u https://www.iprbookshop.ru/64191.html |z Перейти к просмотру издания | |
| 801 | 1 | |a RU |b IPR SMART |c 20250903 |g RCR | |
| 010 | |a 978-5-87623-977-8 | ||
| 205 | |a Патентные исследования. Анализ патентной ситуации |b 2027-03-01 | ||
| 333 | |a Гарантированный срок размещения в ЭБС до 01.03.2027 (автопролонгация) | ||
| 100 | |a 20250903d2015 k y0rusy01020304ca | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Патентные исследования. Анализ патентной ситуации |e учебное пособие |f А. Б. Рожнов, В. Ю. Турилина | |
| 700 | 1 | |a Рожнов, |b А. Б. |4 070 | |
| 701 | 1 | |a Турилина, |b В. Ю. |4 070 | |
| 330 | |a В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации. Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники. | ||
| 210 | |a Москва |c Издательский Дом МИСиС |d 2015 | ||
| 610 | 1 | |a патентное исследование | |
| 610 | 1 | |a техника | |
| 610 | 1 | |a патентная чистота | |
| 610 | 1 | |a патентная ситуация | |
| 610 | 1 | |a БД | |
| 610 | 1 | |a патентный поиск | |
| 675 | |a 60 | ||
| 686 | |a 67.404 |2 rubbk | ||
| 300 | |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. | ||
| 106 | |a s | ||
| 230 | |a Электрон. дан. (1 файл) | ||
| 336 | |a Текст | ||
| 337 | |a электронный | ||
| 503 | 0 | |a Доступна эл. версия. IPR SMART | |
| 215 | |a 75 с. | ||