Пропуск в контексте

Методы математического моделирования учебное пособие

Изложены основные методы численного моделирования полупроводниковых структур микро- и наноэлектроники, основанные на решении фундаментальной системы уравнений: Пуассона, непрерывности и переноса. Рассмотрены основные приближения базовой системы уравнений и границы их применимости. Представлены метод...

Fuld beskrivelse

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Юрчук, С. Ю. (070)
Format: Книга
Fag:
Online adgang:Перейти к просмотру издания
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Beskrivelse
Fysisk beskrivelse:Книга находится в премиум-версии IPR SMART.
ISBN:978-5-906953-43-8