Пропуск в контексте

Технологии субмикронных структур микроэлектроники

Рассмотрены и обобщены результаты исследований и разработок в области технологии и оборудования для производства и диагностики субмикронных структур полупроводниковой микроэлектроники. Предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и других отраслей промышленности, специа...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
פורמט: Книга
נושאים:
גישה מקוונת:Перейти к просмотру издания
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים