Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений учебное пособие
В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложени...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Темы: | |
| Online-ссылка: | Перейти к просмотру издания |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 03537nam0a2200385 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU/IPR SMART/98052 | ||
| 856 | 4 | |u https://www.iprbookshop.ru/98052.html |z Перейти к просмотру издания | |
| 801 | 1 | |a RU |b IPR SMART |c 20250903 |g RCR | |
| 010 | |a 2227-8397 | ||
| 205 | |a Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений |b 2025-12-16 | ||
| 333 | |a Гарантированный срок размещения в ЭБС до 16.12.2025 (автопролонгация) | ||
| 100 | |a 20250903d2002 k y0rusy01020304ca | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений |e учебное пособие |f А. Н. Иванов, А. М. Поляков | |
| 700 | 1 | |a Иванов, |b А. Н. |4 070 | |
| 701 | 1 | |a Поляков, |b А. М. |4 070 | |
| 330 | |a В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения. | ||
| 210 | |a Москва |c Издательский Дом МИСиС |d 2002 | ||
| 610 | 1 | |a рентгеновское излучение | |
| 610 | 1 | |a кристаллическая структура | |
| 610 | 1 | |a субструктура | |
| 610 | 1 | |a дифракционный метод | |
| 610 | 1 | |a реальный кристалл | |
| 610 | 1 | |a материал | |
| 675 | |a 539 | ||
| 686 | |a 30.3 |2 rubbk | ||
| 300 | |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. | ||
| 106 | |a s | ||
| 230 | |a Электрон. дан. (1 файл) | ||
| 336 | |a Текст | ||
| 337 | |a электронный | ||
| 503 | 0 | |a Доступна эл. версия. IPR SMART | |
| 215 | |a 79 с. | ||