Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений учебное пособие
В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложени...
שמור ב:
| מחבר ראשי: | Иванов, А. Н. (070) |
|---|---|
| פורמט: | Книга |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Перейти к просмотру издания |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур учебное пособие
מאת: Бублик, В. Т. - Физика реального кристалла лабораторный практикум
-
Симметрия кристаллов практикум
מאת: Салихов, С. В. -
Взаимные развороты кристаллов учебное пособие
מאת: Яльцев, В. Н. -
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия учебное пособие
מאת: Бублик, В. Т.