Пропуск в контексте

Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур учебное пособие

Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изу...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Бублик, В. Т. (070)
Формат: Книга
Темы:
Online-ссылка:Перейти к просмотру издания
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 03200nam0a2200373 4500
001 RU/IPR SMART/98065
856 4 |u https://www.iprbookshop.ru/98065.html  |z Перейти к просмотру издания 
801 1 |a RU  |b IPR SMART  |c 20250903  |g RCR 
010 |a 2227-8397 
205 |a Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур  |b 2025-12-16 
333 |a Гарантированный срок размещения в ЭБС до 16.12.2025 (автопролонгация) 
100 |a 20250903d2001 k y0rusy01020304ca 
105 |a y j 000zy 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур  |e учебное пособие  |f В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев 
700 1 |a Бублик,   |b В. Т.  |4 070 
701 1 |a Щербачев,   |b К. Д.  |4 070 
330 |a Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. 
210 |a Москва  |c Издательский Дом МИСиС  |d 2001 
610 1 |a дифракционный метод 
610 1 |a поверхностный слой 
610 1 |a приборная структура 
610 1 |a деформация 
610 1 |a рентгеновское излучение 
675 |a 548 
686 |a 30.3  |2 rubbk 
300 |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. 
106 |a s 
230 |a Электрон. дан. (1 файл) 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
503 0 |a Доступна эл. версия. IPR SMART 
215 |a 100 с.