COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS

На первом этапе были синтезированы объекты исследования – диоксид кремния методом Штобера, где в качестве прекурсора использовали тетраэтоксисилан, и нанокомпозит ZnO–Au золь-гель методом с использованием в качестве прекурсора 2–водного ацетата цинка. На втором этапе, микроструктуру и морфологию пол...

Полное описание

Сохранить в:

Библиографические подробности
Главные авторы:	Kuleshov, D. S., Кулешов, Д. С., Blinov, A. V., Блинов, А. В., Blinova, A. A., Блинова, А. А., Yasnaya, M. A., Ясная, М. А., Maglakelidze, D. G., Маглакелидзе, Д. Г., Vishnitskaya, O. K., Вишницкая, О. К.
Формат:	Статья
Язык:	English
Опубликовано:	Tver State University 2024
Темы:	Silicon dioxide Detectors ZnO–Au nanocomposite Scanning electron microscopy Microstructure
Online-ссылка:	https://dspace.ncfu.ru/handle/123456789/29290
Метки:	Добавить метку Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

id	ir-123456789-29290
record_format	dspace
spelling	ir-123456789-292902024-11-29T08:27:44Z COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS Kuleshov, D. S. Кулешов, Д. С. Blinov, A. V. Блинов, А. В. Blinova, A. A. Блинова, А. А. Yasnaya, M. A. Ясная, М. А. Maglakelidze, D. G. Маглакелидзе, Д. Г. Vishnitskaya, O. K. Вишницкая, О. К. Silicon dioxide Detectors ZnO–Au nanocomposite Scanning electron microscopy Microstructure На первом этапе были синтезированы объекты исследования – диоксид кремния методом Штобера, где в качестве прекурсора использовали тетраэтоксисилан, и нанокомпозит ZnO–Au золь-гель методом с использованием в качестве прекурсора 2–водного ацетата цинка. На втором этапе, микроструктуру и морфологию полученных образцов исследовали методом растровой электронной микроскопии на сканирующем электронном микроскопе «MIRA-LMH» фирмы «Tescan» с применением как классического детектора вторичных электронов, так и дополнительных детекторов – внутрилинзового детектора вторичных электронов и детектора отраженных электронов. В результате исследований установлено, что при использовании детектора вторичных электронов получаются изображения с топографическим контрастом и практически без шумов. При использовании внутрилинзового детектора вторичных электронов создаются изображения только материального контраста, без влияния рельефа поверхности. Также использование данного детектора позволило получить высококачественные изображения с большим разрешением на расстоянии от образца 5 мм. При использовании детектора отраженных электронов с рабочим расстоянием до образца 8 мм и увеличении разрешающей способности микроскопа, полученные изображения имеют низкий контраст границ, но представляют композиционную информацию с высокой чувствительностью. Таким образом, установлено, что внутрилинзовый детектор вторичных электронов, с рабочим расстоянием до образца 5 мм, является оптимальным для получения четких изображений микроструктры поверхности наноматериалов при многократном увеличении. 2024-11-29T08:25:38Z 2024-11-29T08:25:38Z 2021 Статья Kuleshov, D. S.; Blinov, A. V.; Blinova, A. A.; Yasnaya, M. A.; Maglakelidze, D. G.; Vishnitskaya, O. K. COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS // PHYSICAL AND CHEMICAL ASPECTS OF THE STUDY OF CLUSTERS NANOSTRUCTURES AND NANOMATERIALS. - 2021. - 13. - рр. 250-262. - DOI:10.26456/pcascnn/2021.13.250 https://dspace.ncfu.ru/handle/123456789/29290 en PHYSICAL AND CHEMICAL ASPECTS OF THE STUDY OF CLUSTERS NANOSTRUCTURES AND NANOMATERIALS application/pdf Tver State University
institution	СКФУ
collection	Репозиторий
language	English
topic	Silicon dioxide Detectors ZnO–Au nanocomposite Scanning electron microscopy Microstructure
spellingShingle	Silicon dioxide Detectors ZnO–Au nanocomposite Scanning electron microscopy Microstructure Kuleshov, D. S. Кулешов, Д. С. Blinov, A. V. Блинов, А. В. Blinova, A. A. Блинова, А. А. Yasnaya, M. A. Ясная, М. А. Maglakelidze, D. G. Маглакелидзе, Д. Г. Vishnitskaya, O. K. Вишницкая, О. К. COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS
description	На первом этапе были синтезированы объекты исследования – диоксид кремния методом Штобера, где в качестве прекурсора использовали тетраэтоксисилан, и нанокомпозит ZnO–Au золь-гель методом с использованием в качестве прекурсора 2–водного ацетата цинка. На втором этапе, микроструктуру и морфологию полученных образцов исследовали методом растровой электронной микроскопии на сканирующем электронном микроскопе «MIRA-LMH» фирмы «Tescan» с применением как классического детектора вторичных электронов, так и дополнительных детекторов – внутрилинзового детектора вторичных электронов и детектора отраженных электронов. В результате исследований установлено, что при использовании детектора вторичных электронов получаются изображения с топографическим контрастом и практически без шумов. При использовании внутрилинзового детектора вторичных электронов создаются изображения только материального контраста, без влияния рельефа поверхности. Также использование данного детектора позволило получить высококачественные изображения с большим разрешением на расстоянии от образца 5 мм. При использовании детектора отраженных электронов с рабочим расстоянием до образца 8 мм и увеличении разрешающей способности микроскопа, полученные изображения имеют низкий контраст границ, но представляют композиционную информацию с высокой чувствительностью. Таким образом, установлено, что внутрилинзовый детектор вторичных электронов, с рабочим расстоянием до образца 5 мм, является оптимальным для получения четких изображений микроструктры поверхности наноматериалов при многократном увеличении.
format	Статья
author	Kuleshov, D. S. Кулешов, Д. С. Blinov, A. V. Блинов, А. В. Blinova, A. A. Блинова, А. А. Yasnaya, M. A. Ясная, М. А. Maglakelidze, D. G. Маглакелидзе, Д. Г. Vishnitskaya, O. K. Вишницкая, О. К.
author_facet	Kuleshov, D. S. Кулешов, Д. С. Blinov, A. V. Блинов, А. В. Blinova, A. A. Блинова, А. А. Yasnaya, M. A. Ясная, М. А. Maglakelidze, D. G. Маглакелидзе, Д. Г. Vishnitskaya, O. K. Вишницкая, О. К.
author_sort	Kuleshov, D. S.
title	COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS
title_short	COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS
title_full	COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS
title_fullStr	COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS
title_full_unstemmed	COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS
title_sort	comparison of the efficiency of different detectors of the scanning electronic microscope mira-lmh for studying microstructure of nanomaterials
publisher	Tver State University
publishDate	2024
url	https://dspace.ncfu.ru/handle/123456789/29290
work_keys_str_mv	AT kuleshovds comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT kulešovds comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT blinovav comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT blinovav comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT blinovaaa comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT blinovaaa comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT yasnayama comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT âsnaâma comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT maglakelidzedg comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT maglakelidzedg comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT vishnitskayaok comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials AT višnickaâok comparisonoftheefficiencyofdifferentdetectorsofthescanningelectronicmicroscopemiralmhforstudyingmicrostructureofnanomaterials
_version_	1842245854531944448

COMPARISON OF THE EFFICIENCY OF DIFFERENT DETECTORS OF THE SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE MIRA-LMH FOR STUDYING MICROSTRUCTURE OF NANOMATERIALS

Схожие документы