Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awduron: | , |
|---|---|
| Fformat: | Статья |
| Iaith: | Russian |
| Cyhoeddwyd: |
2019
|
| Pynciau: | |
| Mynediad Ar-lein: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|