Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Статья |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
2019
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|