Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Gorde:
| Egile Nagusiak: | , |
|---|---|
| Formatua: | Статья |
| Hizkuntza: | Russian |
| Argitaratua: |
2019
|
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|