Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Gardado en:
| Главные авторы: | , |
|---|---|
| Formato: | Статья |
| Idioma: | Russian |
| Publicado: |
2019
|
| Темы: | |
| Acceso en liña: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Метки: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|