Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
שמור ב:
| Главные авторы: | , |
|---|---|
| פורמט: | Статья |
| שפה: | Russian |
| יצא לאור: |
2019
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|