Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
保存先:
| 主要な著者: | , |
|---|---|
| フォーマット: | Статья |
| 言語: | Russian |
| 出版事項: |
2019
|
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|