Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Сохранить в:
| Главные авторы: | , |
|---|---|
| 格式: | Статья |
| 語言: | Russian |
| 出版: |
2019
|
| 主題: | |
| 在線閱讀: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|