Přeskočit na obsah

Influence of argon pressure on the surface morphology of thin InGaAsP/Si films

The thin films of InGaAsP/Si were obtained by pulsed laser deposition at different argon pressures. The InGaAsP/Si films obtained at an argon pressure of 10 Pa have the highest roughness, and the smallest are films obtained in a vacuum. In PLD in argon, atoms are scattered on the substrate at differ...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: Devitsky, O. V., Девицкий, О. В.
Médium: Статья
Jazyk:English
Vydáno: American Institute of Physics Inc. 2022
Témata:
On-line přístup:https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/21198
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!