Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества учебное пособие
В пособии рассмотрена возможность применения высокоэнергетичной протонной радиографии для диагностики вещества. Описаны принципы разработки ионно-оптических схем для протонной микроскопии и факторы, влияющие на пространственное и временное разрешение метода протонной радиографии. Приведены результат...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Опубликовано: |
Москва
НИЯУ МИФИ
2018
|
| Online-ссылка: | https://e.lanbook.com/book/126650 https://e.lanbook.com/img/cover/book/126650.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Краткое описание: | В пособии рассмотрена возможность применения высокоэнергетичной протонной радиографии для диагностики вещества. Описаны принципы разработки ионно-оптических схем для протонной микроскопии и факторы, влияющие на пространственное и временное разрешение метода протонной радиографии. Приведены результаты проектирования ионно-оптических систем для радиографических установок на пучках протонов с энергией 1 и 9 ГэВ с оценкой пространственного разрешения установок, обусловленного хроматическими аберрациями. При написании пособия использованы материалы лекций по курсу “Физика пучков заряженных частиц”, которые автор читала на факультете экспериментальной и теоретической физики НИЯУ МИФИ в 2012-2015 гг. Предназначено для магистрантов и аспирантов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния вещества, физики плазмы и физики ускорителей, а также может быть полезно специалистам, занятым в междисциплинарных исследованиях, требующих применения современных радиографических методов. |
|---|---|
| Объем: | 20 с. |
| Аудитория: | Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Физика |
| Библиография: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |
| ISBN: | 978-5-7262-2469-5 |