Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда лабораторная работа
Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Опубликовано: |
Москва
НИЯУ МИФИ
2019
|
| Online-ссылка: | https://e.lanbook.com/book/126664 https://e.lanbook.com/img/cover/book/126664.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 04051nam0a2200301 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 126664 | ||
| 003 | RuSpLAN | ||
| 005 | 20221220174034.0 | ||
| 008 | 221220s2019 ru gs 000 0 rus | ||
| 020 | |a 978-5-7262-2376-6 | ||
| 040 | |a RuSpLAN | ||
| 041 | 0 | |a rus | |
| 044 | |a ru | ||
| 080 | |a 539.26 (076.5) | ||
| 084 | |a 22.346я7 |2 rubbk | ||
| 245 | 0 | 0 | |a Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда |b лабораторная работа |c Исаенкова М. Г.,Крымская О. А.,Перлович Ю. А. |
| 260 | |a Москва |b НИЯУ МИФИ |c 2019 | ||
| 300 | |a 32 с. | ||
| 500 | |a Рекомендовано к изданию ФУМО «Ядерные физика и технологии» | ||
| 504 | |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань | ||
| 520 | 8 | |a Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов . Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии». | |
| 521 | 8 | |a Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Физика | |
| 100 | 1 | |a Исаенкова М. Г. | |
| 700 | 1 | |a Крымская О. А. | |
| 700 | 1 | |a Перлович Ю. А. | |
| 856 | 4 | |u https://e.lanbook.com/book/126664 | |
| 856 | 4 | 8 | |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/126664.jpg |
| 953 | |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/126664.jpg | ||