Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС учебно-методическое пособие
Рассматриваются физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Рассмотрены методы интерпретации фотоэлектронных спектров. Описана методика проведения количественного химического анализа методом РФЭС совместно с ионным профилированием структур с нанометровыми слоями. Приведены...
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Altres autors: | , , |
| Format: | Книга |
| Idioma: | Russian |
| Publicat: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2013
|
| Accés en línia: | https://e.lanbook.com/book/152945 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152945.jpg |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
| Sumari: | Рассматриваются физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Рассмотрены методы интерпретации фотоэлектронных спектров. Описана методика проведения количественного химического анализа методом РФЭС совместно с ионным профилированием структур с нанометровыми слоями. Приведены примеры анализа состава наноструктур на основе оксида кремния и спинтронных систем на основе арсенида галлия Для студентов бакалавриата и магистратуры, обучающихся по специальностям 222900 – "Нанотехнологии и микросистемная техника" и 210100 – "Электроника и наноэлектроника", направление специализации — "Физика твердотельных наноструктур" |
|---|---|
| Descripció de l’ítem: | Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающимся по направлениям 222900 – "Нанотехнологии и микросистемная техника", 210100 – "Электроника и наноэлектроника" |
| Descripció física: | 50 с. |
| Destinataris: | Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Химия |
| Bibliografia: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |