Измерение и анализ электрофизических характеристик мемристорных структур учебно-методическое пособие
Целью учебно-методического пособия является освоение методики измерения и анализа электрофизических характеристик современных приборных структур микроэлектроники и наноэлектроники – мемристорных структур металл-диэлектрик-металл. Учебно-методическое пособие предназначено для бакалавров, магистров и...
保存先:
| 第一著者: | |
|---|---|
| その他の著者: | , , , , |
| フォーマット: | Книга |
| 言語: | Russian |
| 出版事項: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2015
|
| オンライン･アクセス: | https://e.lanbook.com/book/153053 https://e.lanbook.com/img/cover/book/153053.jpg |
| タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
| 要約: | Целью учебно-методического пособия является освоение методики измерения и анализа электрофизических характеристик современных приборных структур микроэлектроники и наноэлектроники – мемристорных структур металл-диэлектрик-металл. Учебно-методическое пособие предназначено для бакалавров, магистров и аспирантов, выполняющих научную работу и обучающихся по направлениям подготовки 11.03.04 – “Электроника и наноэлектроника”, 28.03.01 – “Нанотехнологии и микроэлектроника”, 11.04.04 – “Электроника и наноэлектроника” и 11.06.01 – “Электроника, радиотехника и системы связи”. |
|---|---|
| 物理的記述: | 31 с. |
| Audience: | Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Инженерно-технические науки |
| 書誌: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |