Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...

Cur síos iomlán

Sábháilte in:

Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoir:	Николичев Д. Е.
Rannpháirtithe:	Боряков А. В.
Formáid:	Книга
Teanga:	Russian
Foilsithe / Cruthaithe:	Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2011
Rochtain ar líne:	https://e.lanbook.com/book/153530 https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg
Clibeanna:	Cuir clib leis Níl clibeanna ann, Bí ar an gcéad duine le clib a chur leis an taifead seo!

Míreanna comhchosúla

Основы сканирующей зондовой микроскопии
de réir: Корнилов В. М.
Foilsithe / Cruthaithe: (2011)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания
de réir: Корнилов В. М.
Foilsithe / Cruthaithe: (2011)

Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
de réir: Елманов Г. Н.
Foilsithe / Cruthaithe: (2011)

Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие

Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
de réir: Круглов А. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2022)

Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии сборник докладов xi международной конференции, минск, 21–24 октября 2014 г.

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов
Foilsithe / Cruthaithe: (2016)

Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС учебно-методическое пособие
de réir: Николичев Д. Е.
Foilsithe / Cruthaithe: (2013)

Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
Foilsithe / Cruthaithe: (2014)

Диагностика полупроводниковых источников излучения учебное пособие
de réir: Сергеев В. А.
Foilsithe / Cruthaithe: (2022)

Диагностика полупроводниковых источников излучения учебное пособие
de réir: Сергеев, В. А.

Физика наносистем монография
de réir: Сергеев, Н. А.

Физика наносистем монография
de réir: Сергеев, Н. А.

Физика наносистем Монография
de réir: Сергеев Н.А

Физика наносистем Монография
de réir: Кульбачинский В. А.

Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии учебное пособие
de réir: Николичев Д. Е.
Foilsithe / Cruthaithe: (2014)

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
de réir: Волкова Е. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2014)

Новая локальная история макрорегиона
de réir: Булыгина, Т. А., et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2018)

Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме: электронная оже-спектроскопия учебно-методическое пособие
de réir: Фомин Д. В.

Новая локальная история макрорегиона практикум
de réir: Булыгина, Т. А.

Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
de réir: Круглов А. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2022)

Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
de réir: Морозова, К. Н.

Основы компьютерного моделирования наносистем
de réir: Ибрагимов И. М.
Foilsithe / Cruthaithe: (2022)

Основы сканирующей зондовой микроскопии
de réir: Миронов В. Л.

Изучение локального химического строения поверхности плазмополимеризованной пленки пентана методом атомной силовой микроскопии Статья
de réir: Жихарев А.В

Моделирование структуры и свойств наносистем учебно-методическое пособие
de réir: Звонарев, С. В.

Фундаментальные основы физики наносистем учебное пособие
de réir: Литвинов В. Г.
Foilsithe / Cruthaithe: (2017)

Фундаментальные основы физики наносистем учебное пособие
de réir: Литвинов, В. Г.

Современные методы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
de réir: Миронов С. Ю.
Foilsithe / Cruthaithe: (2023)

Методы электронной микроскопии учебное пособие
de réir: Филимонова Н. И.
Foilsithe / Cruthaithe: (2016)

Методы зондовой микроскопии учебное пособие
de réir: Рыбин Н. Б.
Foilsithe / Cruthaithe: (2014)

Методы электронной микроскопии учебное пособие
de réir: Филимонова, Н. И.

Методы зондовой микроскопии учебное пособие

Элементарное введение в теорию наносистем
de réir: Давыдов С. Ю.
Foilsithe / Cruthaithe: (2022)

Моделирование магнитных свойств дисперсных наносистем
de réir: Ситников, Т. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2018)

Методы исследования наноматериалов и наносистем
de réir: Шевченко, И. М., et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2023)

Методы диагностики и анализа наносистем
de réir: Шевченко, И. М., et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2023)

Технология полупроводниковых материалов
de réir: Александров С. Е.
Foilsithe / Cruthaithe: (2022)

Выращивание полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками InAs/GaAs методом ГФЭ МОС описание лабораторной работы
Foilsithe / Cruthaithe: (2001)

Методы диагностики и анализа наносистем Учебное пособие